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《惠瑞捷集成电路测试论文比赛》获奖论文公告
2007-11-06 教育部科技发展中心

2007《惠瑞捷集成电路测试技术论文比赛》所有参赛论文在通信评议的基础上,于10月20日在北京召开了“2007《惠瑞捷集成电路测试技术论文比赛》专家评审暨答辩会议”。

会议按答辩人自我表述、评委质疑、专家无记名投票的方式进行,最终评出一等奖1名,二等奖2名,三等奖4名,鼓励奖4名。

现将2007《惠瑞捷集成电路测试技术论文比赛》获奖论文及作者向社会公告,接受监督。

公告期从2007年11月6日起,到2007年11月23日止。

公告期间若存异议,请发邮件至lixiongwen@cutech.edu.cn中,并留下您的真实姓名和联系方式。

教育部科技发展中心

二OO七年十一月五日


2007“惠瑞捷集成电路测试技术论文比赛”获奖论文

序号

获奖单位 获奖作者 获奖论文名称 获奖等级
1 北京大学 Jianguo Ren,Teng Lin,Jianbing Zhao, Hongfei Ye,Jianhua Feng A Histogram BIST Scheme for ADCs Based on Time Decomposition and Space Decomposition 一等奖
2 北京大学 Lin Teng, Zhao Jianbin, Ren Jianguo , Feng Jianhua, Wang Yangyuan A novel scheme for application-dependent testing of FPGAs 二等奖
3 复旦大学 Tenglong Ren , Yun Sheng , Zhiliang Hong Design & Testing of A 1.8-V 15.5-mW 16-bit 96-kHz Chopper-Stabilized Sigma-Delta ADC 二等奖
4 西安交通大学 Hou Xueyan A Novel Low Power BIST for Scan Based Circuits 三等奖
5 西安交通大学 Cao Lei A Novel Compression Techniques for Test Responses 三等奖
6 上海交通大学 Ye Huang, Cheng Xiulan Automatic generation of test pattern for register circuit to achieve 100% fault coverage 三等奖
7 浙江大学 Shaoyu MA, Yan HAN, You CAI A 3.3V 18bit Digital Audio Sigma-Delta ADC in 0.18- μm CMOS Process 三等奖
8 复旦大学 Min Zhang, Shi-Jin Ding, Zhi-Ying Liu, Zhong-Wei Liao, Yue Huang, David Wei Zhang Investigation on Atomic-layer-deposited Ruthenium Nanocrystal and its Application for Nonvolatile Memory 鼓励奖
9 浙江大学 CHEN Jin-long, HAN Yan, LIAN Yu-ping,ZHANG Yan Page-Based Non-Contiguous Dynamic Memory Allocator 鼓励奖
10 东南大学 Xujia Research and Application of Mixer Automatic Measurement 鼓励奖
11 西安电子科技大学 谢元斌 李琳 潘伟涛 可切换式TAM 结构的SoC 测试调度 鼓励奖
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