近日,复旦大学微电子学院教授张卫、周鹏团队研发出具有颠覆性的二维半导体准非易失存储原型器件,开创了第三类存储技术,解决了国际半导体电荷存储技术中“写入速度”与“非易失性”难以兼得的难题。
目前半导体电荷存储技术主要有两类,第一类是易失性存储,例如计算机的内存,可在几纳秒左右写入数据,但掉电后数据会立即消失;第二类是非易失性存储,例如U盘,需要几微秒到几十微秒才能把数据保存下来,但在写入数据后无需额外能量可保存10年。
新型电荷存储技术能够实现全新的第三类存储特性:写入速度比目前U盘快1万倍,数据刷新时间是内存技术的156倍,并且拥有卓越的调控性,可以实现按照数据有效时间需求设计存储器结构。它既满足了10纳秒写入数据速度,又实现了按需定制(10秒-10年)的可调控数据准非易失特性;既可以在高速内存中极大降低存储功耗,还可以实现数据有效期截止后自然消失,为一些特殊应用场景解决了保密性和传输的矛盾。
特别声明:本站注明稿件来源为其他媒体的文/图等稿件均为转载稿,本站转载出于非商业性的教育和科研之目的,并不意味着赞同其观点或证实其内容的真实性。如转载稿涉及版权等问题,请作者在两周内速来电或来函联系。